文档类型:英文 版本:2.1 下载次数:464 更新日期:2016-09-06
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AN2668_通过过采样来提高STM32F1x和STM32L1x的ADC精度
本文档适用于STM32F1和STM32L1系列微控制器。本文档给出了两种提高ADC精度的方法。这些技术基于采样原理:对输入信号进行最大1 MHz过采样,然后抽取输入信号来增加ADC的精度。
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