文档类型:中文 版本:1 下载次数:2682 更新日期:2014-10-31
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AN1181_静电放电敏感度测量
本文档适用于STM8和STM32系列微控制器,介绍了用于确定微控制器器件对 ESD 损坏的敏感性的过程。
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